1.靜電(diàn)放電(diàn)抗擾度測試範圍:
靜電(diàn)放電(diàn)抗擾度試驗(ESD)的國(guó)家标準為(wèi)GB/T17626.2(等同于國(guó)際标準IEC61000-4-2) 。

     靜電(diàn)放電(diàn)（ESD)是一種自然現象,靜電(diàn)放電(diàn)多(duō)發生于人體(tǐ)接觸半導體(tǐ)器件的時候,有(yǒu)可(kě)能(néng)導緻數層半導體(tǐ)材料的擊穿,産(chǎn)生不可(kě)挽回的損壞.靜電(diàn)放電(diàn)以及緊跟其後的電(diàn)磁場變化,可(kě)能(néng)危害電(diàn)子設備的正常工(gōng)作(zuò)。

2. 靜電(diàn)放電(diàn)抗擾度測試方法:
    GB/T17626.2國(guó)内靜電(diàn)放電(diàn)标準描述的是在低濕度環境下,通過摩擦使人體(tǐ)帶電(diàn).帶了電(diàn)的人體(tǐ),在與設備接觸過程中(zhōng)就可(kě)能(néng)對設備放電(diàn).靜電(diàn)放電(diàn)抗擾度試驗模拟了兩種情況:⑴設備操作(zuò)人員直接觸摸設備時對設備的放電(diàn),和放電(diàn)對設備工(gōng)作(zuò)的影響;⑵設備操作(zuò)人員在觸摸鄰近設備時,對所關心這台設備的影響.
      其中(zhōng)前一種情況稱為(wèi)直接放電(diàn)(直接對設備放電(diàn));後一種情況稱為(wèi)間接放電(diàn)(通過對鄰近物(wù)體(tǐ)的放電(diàn),間接構成對設備工(gōng)作(zuò)的影響).靜電(diàn)放電(diàn)可(kě)能(néng)造成的後果是:
      ⑴通過直接放電(diàn),引起設備中(zhōng)半導體(tǐ)器件的損壞,從而造成設備的永久性失效.
      ⑵由放電(diàn)(可(kě)能(néng)是直接放電(diàn),也可(kě)能(néng)是間接放電(diàn))而引起的近場電(diàn)磁場變化,造成設備的誤動作(zuò).

3. 靜電(diàn)放電(diàn)抗擾度标準：

靜電(diàn)放電(diàn)抗擾度試驗最新(xīn)标準GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001